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FGA25N120的放大原理是什麽?

FGA25N120的放大原理如下:

首先,用指針式萬用表鑒別場效應管。

(1)通過測量電阻區分結型場效應晶體管的電極。

根據場效應晶體管PN結正向和反向電阻值不同的現象,可以區分結型場效應晶體管的三個電極。具體方法:將萬用表設在R×1k,選擇兩個電極,分別測量正負電阻值。當兩個電極的正負電阻值相等且為幾千歐姆時,這兩個電極分別為漏極D和源極S。

因為結型場效應晶體管的漏極和源極是可以互換的,所以剩下的電極壹定是柵極g,妳也可以將萬用表的黑色觸針(紅色觸針也可以)隨意接觸到壹個電極,另壹個觸針依次接觸另外兩個電極,測量其電阻。當兩次測得的電阻值大致相等時,黑色鐵筆接觸的電極為柵極,另外兩個電極分別為漏極和源極。

如果兩次測得的電阻值都很大,說明PN結反了,也就是兩個電阻都反了,可以判斷是N溝道場效應晶體管,黑觸針接在柵極上;如果測兩次電阻都很小,說明是正向PN結,也就是正向電阻,判斷為P溝道場效應晶體管,黑探針也接在柵極上。如果沒有出現上述情況,可以更換黑色和紅色探針,按照上述方法進行測試,直到識別出網格為止。

(2)通過測量電阻來判斷FET的好壞。

電阻測量方法是用萬用表測量FET的源極與漏極之間、柵極與源極之間、柵極與漏極之間、柵極G1與柵極G2之間的電阻值,來判斷FET說明書上標明的電阻值是否壹致。具體方法:首先將萬用表放在R×10或R×100檔,測量源極S和漏極D之間的電阻,壹般在幾十歐姆到幾千歐姆的範圍內(手冊上知道不同型號的燈管電阻值不壹樣)。如果測得的電阻值大於正常值,可能是內部接觸不良;如果測得的電阻為無窮大,則可能是內部磁極斷裂。

然後將萬用表放在R×10k,再測量柵極G1與G2之間、柵極與源極之間、柵極與漏極之間的電阻值。當所有電阻值都為無窮大時,電子管正常。如果上述電阻值測量值太小或通道,管是壞的。需要註意的是,如果管內有兩個網格斷裂,可以使用元素替代法進行檢測。

(3)用感應信號輸入的方法估算場效應晶體管的放大能力。

具體方法:用R×100的萬用表電阻,將紅色表筆接源極S,黑色表筆接漏極D,給FET加壹個1.5V的電源電壓。此時,觸控筆指示的漏極和源極之間的電阻值。然後用手捏住結型場效應晶體管的柵極G,將人體的感應電壓信號加到柵極上。這樣由於電子管的放大作用,漏源電壓VDS和漏電流Ib都會發生變化,也就是漏源之間的電阻會發生變化,從中可以觀察到指針有較大的擺動。如果手捏的柵極針有輕微擺動,說明電子管的放大能力差;手的擺動幅度大,說明電子管的放大能力大;如果手不動,說明管子壞了。

按照上述方法,我們用R×100量程的萬用表,測量結型場效應晶體管3DJ2F。首先打開燈管的G極,測量漏源電阻RDS為600ω。用手握住G極後,手向左擺動,指示電阻RDS為12kω,說明電子管好,放大能力大。

使用這種方法時,有幾點需要說明:

首先,用手捏場效應晶體管的柵極,萬用表指針可能會向右擺動(電阻值減小)或向左擺動(電阻值增大)。這是因為人體感應的交流電壓比較高,用電阻檔測量,不同場效應晶體管的工作點可能不壹樣(要麽工作在飽和區,要麽工作在非飽和區)。測試表明,大部分晶體管的RDS增大,即雙手向左擺動;少數管RDS降低,使手向右擺動。但不管表針擺動方向如何,只要表針擺動幅度大,就說明電子管有較大的放大能力。

其次,這種方法也適用於MOS場效應晶體管。但需要註意的是,MOS FET的輸入電阻較高,柵極G的允許感應電壓不能太高。所以不要直接用手捏閘門。妳必須用它握住螺絲刀的絕緣柄,用金屬棒觸碰柵極,防止人為感應電荷直接加在柵極上,造成柵極擊穿。第三,每次測量後,G-S極之間應該有短路。這是因為G-S結電容會帶少量電荷,建立VGS電壓,可能導致再次測量時表針不動,只能對G-S電極間的短路放電。

(4)通過測量電阻來判斷未標記的場效應晶體管。

首先通過測量電阻找到兩個有阻值的管腳,分別是源極S和漏極D,剩下的兩個管腳分別是第壹柵極G1和第二柵極G2。先記下兩個探針測得的源極S和漏極D之間的電阻值,然後調整探針再測壹次,記下測得的電阻值。與黑色探針相連的電極為漏電極D;紅色手寫筆接源S,用這種方法識別的S極和D極也可以通過估算FGA25N120的放大原理來拍攝。