電工電子產品環境試驗國家標準匯編
1.GB/T2423由以下51標準組成:
1 GB/T 2423.1-2001電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
2 GB/T 2423.2-2001電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
3 GB/T 2423.3-1993電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
4 GB/T 2423.4-1993電工電子產品基本環境試驗規程試驗Db:交變濕熱試驗方法
5 GB/T 2423.5-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法、試驗Ea和導則:沖擊
6 GB/T 2423.6-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法、試驗Eb和導則:碰撞
7 GB/T 2423.7-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法、試驗Ec和導則:傾倒和翻轉(主要用於設備樣品)
8 GB/T 2423.8-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由落體。
9 GB/T 2423.9-2001電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cb:設備恒定濕熱
10 GB/T 2423.10-1995電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法、試驗Fc和導則:振動(正弦)
11GB/t 2423.11-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fd:寬帶隨機振動-壹般要求
12 GB/T 2423.12-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fda:寬帶隨機振動-高再現性
13 GB/T 2423.13-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fdb:寬頻隨機振動再現性
14 GB/T 2423.14-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fdc:寬頻帶隨機振動引起的再現性低。
15 GB/T 2423.15-1995電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法、試驗Ga和導則:穩定加速。
16 GB/T 2423.16-1999電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法、試驗J和導則:黴變。
17 GB/T 2423.17-1993電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ka:鹽霧試驗方法。
18 GB/T 2423.18-2000電工電子產品環境試驗第二部分:試驗-試驗Kb:鹽霧、交變(氯化鈉溶液)
19 GB/t 2423.19-1981電工電子產品試驗基本環境試驗規程Kc:觸點和連接器二氧化硫試驗方法。
20 GB/T 2423.20-1981電工電子產品試驗基本環境試驗規程Kd:觸點和連接器的硫化氫試驗方法。
21 GB/T 2423.5438+0-1995438+0電工電子產品基本環境試驗規程試驗M:低壓試驗方法。
22 GB/T 2423.22-2002電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
23 GB/T 2423.23-1995電工電子產品環境試驗Q:密封
24 GB/T 2423.24-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面太陽輻射。
25 GB/T 2423.25-1992電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低壓綜合試驗。
26 GB/T 2423.26-1992電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM:高溫/低壓綜合試驗。
27 GB/T 2423.27-1981電工電子產品試驗基本環境試驗規程Z/AMD:低溫/低壓/濕熱連續綜合試驗方法。
28 GB/T 2423.28-1982電工電子產品基本環境試驗規程試驗T:焊接試驗方法
29 GB/T 2423.29-1999電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗U:端子和整體安裝件的強度
30 GB/T 2423.30-1999電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法、試驗XA和導則:清洗劑浸泡。
31 GB/t 2423.438+0-1985電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法。
32 GB/T 2423.32-1985電工電子產品基本環境試驗規程濕稱重法可焊性試驗方法
33 GB/T 2423.33-1989電工電子產品基本環境試驗規程試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
34 GB/T 2423.34-1986電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗方法。
35 GB/T 2423.35-1986電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試樣低溫/振動(正弦)綜合試驗方法。
36 GB/T 2423.36-1986電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法。
37 GB/T 2423.37-1989電工電子產品基本環境試驗規程試驗L:沙塵試驗方法
38 GB/T 2423.38-1990電工電子產品基本環境試驗規程試驗R:水試驗方法
39 GB/T 2423.39-1990電工電子產品試驗基本環境試驗規程Ee:彈跳試驗方法
40 GB/T 2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱。
41 GB/t 2423+0-1994電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法。
42 GB/T 2423.42-1995電工電子產品環境試驗低溫/低壓/振動(正弦)綜合試驗方法
43 GB/T 2423.43-1995電工電子產品環境試驗第二部分:沖擊(Ea)、撞擊(Eb)、振動(Fc和Fb)、穩態加速(Ca)等動態試驗中元器件、設備和其他產品的試驗方法安裝要求和導則。
44 GB/T 2423.44-1995電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗例如:沖擊彈簧錘
45 GB/T 2423.45-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABDM:氣候序列
46 GB/T 2423.46-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ef:沖擊擺
47 GB/T 2423.47-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fg:聲振動。
48 GB/T 2423.48-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法Ff:振動-時間歷程法
49 GB/T 2423.49-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fe:振動正弦拍頻法
50 GB/T 2423.50-1999電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用於元器件的加速試驗。
51 GB/T 2423.55438+0-2000電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗。
二。GB2421-89電工電子產品基本環境試驗通則
三。GB/T2422-1995電工電子產品環境試驗術語
四。GB2424
1.GB2424.1-89電工電子產品基本環境試驗規程高低溫試驗導則。
2.GB/T2424.2-93-Guide電工電子產品基本環境試驗規範濕熱試驗
3.GB/T2424.9-90:電工電子產品基本環境試驗規程黴變試驗指南。
4.GB/T2424.10-93-General電工電子產品基本環境試驗規程加速大氣腐蝕試驗導則。
5.GB/T2424.11-82-Sulfur電工電子產品基本環境試驗規程接觸點和連接的二氧化矽試驗指南。
6.GB/T2424.12-82-Guide電工電子產品接觸點和連接器硫化氫試驗基本環境試驗規程。
7.GB/T2424.13-81-Guide電工電子產品基本環境試驗規程溫度變化試驗。
8.GB/T2424.14-1995電工電子產品基本環境試驗規程第2部分:試驗方法、太陽輻射試驗導則。
9.GB/T2424.15-92-Guide電工電子產品綜合溫度/低壓試驗基本環境試驗規範。
10.GB/T 2424.17-1995電工電子產品基本環境試驗規程焊接試驗導則。
11.GB/T 2424.18-82電工電子產品基本環境試驗規程清洗油浸泡試驗指南。
12.GB/T2424.19-84電工電子產品基本環境試驗規程模擬貯存效應環境試驗導則。
13.GB/T2424.20-85電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗指南。
14.GB/T 2424 438+0-85電工電子產品基本環境試驗規程濕稱重法焊接性試驗導則。
15.GB/T2424.22-86電工電子產品基本環境試驗規範溫度(低溫、高溫)和振動(常溫)綜合試驗導則。
16.GB/T2424.23-90電工電子產品基本環境試驗規程水試驗指南
17.GB/T 2424.24-1995電工電子產品基本環境試驗規範-溫度(低溫、高溫)/低壓/振動(常溫)綜合試驗導則。